取像最常被忽略的小細節續集：設定與干擾
測試AOI時，有時會出現一些惱人的小狀況，以下是一些檢查的方向給大家參考：
1. 機構有無晃動
問題：影像有拖影，但縮短相機曝光時間可看到改善？
原因：通常都是光學模組太重，機構支架支撐力或支點不足，或是平台缺乏防震機制的晃動引起。
2. 相機或鏡頭有無髒污
問題：拍攝的多張影像固定位置都有斑點？
原因：一般都是相機入塵或是鏡頭髒汙導致。使用者若想自行清潔請務必先做好功課，因為通常都會越清越糟，例如不是在無塵環境且使用風量過強的氣槍清潔相機，結果導致越清灰塵越多；或者使用錯誤的清潔劑擦拭鏡頭，造成鏡頭鍍膜脫落……等等。
3. 相機溫度過高
問題：使用的相機是高速高資料量的規格，平常使用時不會發生異常，但當高速長時間取像時相機就會異常？
原因：高速高資料量的相機都會伴隨著高溫，因此有可能必須加裝熱鏡、散熱片、強制氣冷套件、選擇致冷模組等等……。比如Vieworks的VP系列相機，配有TEC熱電冷卻技術，能讓sensor溫度穩定保持低於環境溫20度以下，就能避免相機過熱的問題。
另外，由於現在機台尺寸越做越緊湊，因此許多客戶會選擇使用IPC電腦。但不少IPC電腦空間狹小缺乏散熱機制，往往可能讓安裝其中的影像擷取卡溫度過高。幸好現在越來越多IPC電腦廠商注意到這個問題，都有推出可選配的散熱模組。如果您使用IPC電腦，不妨多注意這點。
4. 影像有無電磁干擾
問題：影像會有局部異常，時好時壞？
原因：常見的電磁干擾來自機台本身，因此可能會需要使用高品質的屏蔽線材，捨棄銅線改用光纖線，對信號進行降噪放大或平均處理…….等等。
外部干擾雖然較少見，但我們也曾經碰過，例如機台附近有會產生強烈電磁波的設備，設備啟動AOI影像就異常；設備沒啟動AOI影像就恢復正常。因此如果把所有可能性都排除後，仍無法順利debug，可以往這個方向試試。
5. 量測結果不佳
彩色相機由於拜耳差值關係，實際解析度是降低的，故並不適合用在量測。量測會建議使用黑白相機或是真實色彩的3CCD相機，鏡頭優先選擇遠心鏡頭，若使用FA鏡頭需選擇長焦距變形量低的鏡頭，光源也必須使用準直光，讓影像邊緣銳利。
6. 有無光線干擾
一般來說線掃相機都是使用在高速取像環境，曝光時間短，相較於面掃相機就不容易遇到光線干擾問題。但有些高階AOI機台會使用高感光的TDI相機，由於TDI相機對微弱光源就會有反應，因此常見是環境或機台內的日光燈就會被相機捕捉進去，所以設計時都會使用黑色外殼包覆光學模組，降低雜散光的干擾。
另外一個常見的是來自機構的干涉。由於線掃描系統通常都是使用高亮度光源，機台內使用的材料若沒有經過挑選處理，就很容易因為反光而影響AOI取像，這點也是蠻容易被忽略的關鍵之一。
7. 影像有無色差
如果檢測環境許可，使用單色光取像會得到清晰的影像。使用白光或是長波長的光，影像銳利度會較差。若是使用沒有APO（複消色差）校正的鏡頭，則在高解析下影像也會模糊。
有好幾個因素發生，不確定該怎麼debug干擾來源？或想瞭解相關產品及應用？