為什麼大景深、高DPI鏡頭，成像卻不好？挑CIS要看「這個」重點
和一般工業鏡頭一樣，如果我們希望鏡頭的解像力越高，CIS透鏡陣列的景深就會越淺、工作距離越近。如果您選擇CIS是為了應用在比較精細的成像，但被推薦的型號有較深的景深與較長的工作距離、而且還是高dpi，雖然規格看起來很吸引人，但反而需要特別留意！
瑕疵能否檢出就看它‧高端設備照明設計的關鍵，你掌握了嗎？
隨著半導體產業的蓬勃發展，台灣的檢測設備也不斷的往高解析度邁進。當解析度變得越來越高，我們會發現：以往可以忽略或是沒發現的現象都將變得顯而易見，並嚴重影響到瑕疵能否檢出。能夠了解照明在高解析度系統扮演的角色，才能打造出符合需求的高解析度檢測設備。
紅外線LED光源亮度不如鹵素燈？實測結果告訴你
在上一篇「還覺得LED亮度不如鹵素燈？長波段更亮的新LED光箱，強勢來襲」中，我們提到REVOX開發的LED光箱憑藉技術實力，在近紅外（NIR）、短波紅外（SWIR）波段的亮度已經大幅超越傳統鹵素燈。
這篇文章，我們透過SWIR相機實測，實際對比REVOX的IR光源（波長1100nm）與150W鹵素燈的亮度表現。
要檢細微瑕疵又不想改機？像素位移給你高解析影像
由於感光元件的像素與像素之間存在著間隙，當我們想進行非常細微的瑕疵檢測時就容易遇到一個問題：瑕疵的訊號同時被兩個或多個像素感光而弱化。而像素位移技術的基本概念是，感光元件每移動1/2 個像素或1/3 個像素，就會拍攝一張照片，所以上圖的瑕疵訊號如果原本落在兩個像素之間，在感光元件移動後就能夠被整個像素完整感測到。
曲面上的凹凸瑕疵檢測：電子業應用案例
當待測物有圖案或圖形，或者是反光曲面時，有越來越多使用者會考慮用3D檢測取代2D檢測。用3D Sensor拍到曲面的凹痕只是第一步，但要怎麼用軟體檢測？仍然是軟體工程師困擾的問題。本期將以滑鼠表面瑕疵檢測作為案例，實際為您示範如何運用3D影像處理工具，輕鬆解決反光曲面的挑戰。
半導體元件越做越小，用什麼波長光檢效果最好？
電磁波的頻譜圖很廣，一般機器視覺最常用到的是介於「紅外線 – 可見光 – 紫外線」這個區間的光源。本文將分別就不同波長的波段跟大家分享它們的特色，希望能讓您在檢測實務上，更瞭解該選擇的光源波段和注意事項。