產品資訊線掃相機

Linea SWIR 線掃相機

半導體、穿透檢測最適用

高速、高響應、低噪點的短波紅外機種
可編程I/O
適用光學分揀、封裝晶圓內部檢測、太陽能板電池檢測等應用