性能升級｜Gocator 4000系列同軸線共焦新型號，BGA、金線檢測更適用
為了更妥善對應半導體行業客戶檢測精細結構的需求，LMI對產品進行了進一步性能提升，針對Gocator 4000系列同軸線共焦推出了以下新型號：
NEW！Gocator 4011
NEW！Gocator 4021
Gocator 4000系列採用同軸光學設計實現零遮擋掃描簡單或複雜的材質表面，在檢測一些目標物應用時，例如較陡構件、超彎曲表面和深凹槽等，提供更精確的測量結果，非常適用於半導體、消費電子和動力電池等行業應用。
成像效果再升級
全新Gocator 4011和4021採用優化光學設計消除雜訊，在檢測半導體行業的BGA和引線鍵合等精細結構目標物時，生成卓越的資料品質，成像效果升級。全系列提供卓越的X方向解析度和最佳Z方向性能，適用於精細特徵檢測和精密3D形狀和2D亮度測量。掃描速可達36 kHz+（加速狀態下），完美滿足線上檢測需求。
應用場景1：BGA與金線檢測
LMI新增的Gocator 4011和 Gocator 4021，在掃描BGA和金線等精細結構目標物的時候，可以提供非常卓越的資料品質、重複性和線性度，如下圖：
應用場景2：高反光待測物
在需要超高靈敏度或在高反光目標物（例如：玻璃）上需要更大的相容角度時，Gocator 4011和 Gocator 4021也因能夠提供更詳細的資料，因此通常更合適。
如果您對LMI的Gocator 4000系列的最新型號感興趣，歡迎聯繫我們，專業的3D團隊將隨時為您提供評估與測試服務。